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2023-02-10
在試驗檢查晶片長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。 本規範適用於量產晶片驗證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝（塑膠封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測試。
